Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: cod="ro"
Treffer 99909 von 233808
|
|
| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1206637625 |
| Titel | Electron-beam-induced current measurements with applied bias provide insight to locally resolved acceptor concentrations at p-n junctions / Daniel Abou-Ras, Norbert Schaefer, N. Baldaz, Stephan Brunken, Christian Boit |
| Person(en) |
Abou-Ras, Daniel (Verfasser) Schaefer, Norbert (Verfasser) Baldaz, N. (Verfasser) Brunken, Stephan (Verfasser) Boit, Christian (Verfasser) |
| Verlag | Berlin : Technische Universität Berlin |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2020 |
| Umfang/Format | Online-Ressource |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2020031801020593983432 DOI: 10.14279/depositonce-9819 Handle: 11303/10926 |
| URL | (kostenfrei zugänglich) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Anmerkungen | In: AIP Advances (5:) - Melville, NY : American Institute of Physics (AIP) - Art.-Id. 077191 |
| DDC-Notation | 537.6226 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sachgruppe(n) | 530 Physik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
Treffer 99909 von 233808
Administration
