Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "test"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1190886014 |
| Titel | Pseudorandom Test of Nonlinear Analog and Mixed-Signal Circuits Based on a Volterra Series Model / by Joonsung Park, Hongjoong Shin, Jacob A. Abraham |
| Person(en) |
Park, Joonsung (Verfasser) Shin, Hongjoong (Verfasser) Abraham, Jacob A. (Verfasser) |
| Organisation(en) | SpringerLink (Online service) (Sonstige) |
| Umfang/Format | Online-Ressource : online resource. |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2019071902494561838710 DOI: 10.1007/s10836-011-5227-6 |
| URL | https://doi.org/10.1007/s10836-011-5227-6 |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2011 |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Enthalten in: Journal of electronic testing (Bd. 27, 31.5.2011, Nr. 3, date:6.2011: 321-334) |
| Sachgruppe(n) | 621.3 Elektrotechnik, Elektronik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |

