Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1345990456 |
| Titel | EBSD and TKD analyses using inverted contrast Kikuchi diffraction patterns and alternative measurement geometries / G. Cios, A. Winkelmann, Gert Nolze, T. Tokarski, B. R. Jany, P. Bala |
| Person(en) |
Cios, G. (Verfasser) Winkelmann, A. (Verfasser) Nolze, Gert (Verfasser) Tokarski, T. (Verfasser) Jany, B. R. (Verfasser) Bala, P. (Verfasser) |
| Verlag | Berlin : Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM) |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2024 |
| Umfang/Format | Online-Ressource (pdf) |
| Persistent Identifier | URN: urn:nbn:de:kobv:b43-613862 |
| URL | (kostenfrei zugänglich) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Anmerkungen | In: Ultramicroscopy, 267, S. 1-8 |
| DDC-Notation | 620.112 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sachgruppe(n) | 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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