Katalog der Deutschen Nationalbibliothek

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Donnerstag, 11. September 2025: Die Deutsche Nationalbibliothek öffnet wegen eines Beschäftigtentreffens an beiden Standorten erst um 15 Uhr. // Thursday, 11 September 2025: The German National Library will not open until 15:00 due to a staff meeting at both locations.

Vom 10. September 2025, 13 Uhr, bis 11. September 2025, 22 Uhr, kann es zu Einschränkungen bei der Bereitstellung von Medienwerken kommen. Wir informieren Sie per E-Mail über den aktuellen Stand Ihrer Bestellungen. // From 13:00 on 10 September 2025 until 22:00 on 11 September 2025, there may be restrictions on the provision of media works. We will inform you by email about the current status of your orders.

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im Bestand: Gesamter Bestand

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	11	Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology Servín, Manuel. - Weinheim : Wiley-VCH, 2014, 1., Auflage
	12	Learning comprehensible models for analysis and predictions in scientific databases Zimmer, Anca M.. - Aachen : Hochschulbibliothek der Rheinisch-Westfälischen Technischen Hochschule Aachen, 2014
	13	Metrology and Theory of Measurement Slaev, Valerij A.. - Berlin/Boston : De Gruyter, 2013
	14	Berechnung der Messunsicherheit Krystek, Michael. - Berlin : Beuth Verlag GmbH, 2012, 1. Aufl.
	15	Maßmenschen Schwenk, Ernst. - Zürich : Oesch Verlag, 2012
	16	Measurement Uncertainties Gupta, S. V.. - Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 2012
	17	The implementation of the Gaussian filter for Dimensional Metrology Krystek, Michael. - Berlin : Beuth Verlag GmbH, 2012, 1. Aufl.
	18	The Pi-Theorem Jarin, Leonid P.. - Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 2012
	19	Broadband Reflectometry for Enhanced Diagnostics and Monitoring Applications Cataldo, Andrea. - Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 2011
	20	Grundriss der Generalisierten Gauß'schen Fehlerrechnung Grabe, Michael. - Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 2011

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