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[A computational toolbox to assess VGF-grown silicon]
Identification and interpretation of characteristics for grain and defect development
Trötschler, Theresa. - Stuttgart : Fraunhofer Verlag, [2023]
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Integrierte Hochfrequenzschaltungen in SiGe BiCMOS-Technologien für die breitbandige Datenübertragung im D-Band
Maiwald, Tim. - Göttingen : Cuvillier Verlag, 2023, 1. Auflage
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Joint Communications & Radar Sensing - Analyse der physikalischen Schicht
Lübke, Maximilian. - Göttingen : Cuvillier Verlag, 2023, 1. Auflage
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Kapazitive Verschiebesensoren: Einfluss von Oberflächenrauheit und Patch-Potentialen
Daul, Lars. - Berlin : Mensch und Buch Verlag, [2023]
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Kompensation der Wrinkle-Bildung beim Kalandrieren von Lithium-Ionen-Kathoden
Bold, Benjamin. - Düren : Shaker Verlag, [2023]
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Kontaktfreie Bahnlaufregelung zur Herstellung funktionaler Mehrlagensysteme in einem kontinuierlichen Laminierprozess
Priwisch, Martin. - Aachen : Apprimus Verlag, 2023, 1. Auflage
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Kontaktlose EMV-Charakterisierung von Ersatzstörquellen
Tumbrägel, Teresa. - Wiesbaden, Germany : Springer Vieweg, [2023]
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Korrelation von Materialqualität und Ausfallmechanismen leistungselektronischer SiC-Bauelemente
Baierhofer, Daniel. - Erlangen : FAU University Press, 2023
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Kurzschlussstromberechnung in Netzen mit Vollumrichteranlagen
Schäkel, Nils. - Garbsen : TEWISS Verlag, [2023]
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Kurzzeitige thermische Belastung von Lithium-Ionen Zellen während des Montageprozesses zu Hochvolt-Batteriesystemen
Bohn, Pamina. - Göttingen : Cuvillier Verlag, 2023, 2. Auflage
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Administration
