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	141	Improved test generation for multiple faults in programmable logic arrays Chen, Yongzhang. - Karlsruhe : Univ., Fak. für Informatik, 1993
	142	Intelligenz-Test Eysenck, Hans Jürgen. - Reinbek bei Hamburg : Rowohlt, 1993, 221. - 225. Tsd.
	143	International application of the DLR test-system: validation of the pilot selection for IBERIA Stahlberg, Gabriele. - Köln : DLR, Zentrale Allg. Dienste, Versand, 1993, (Als Ms. gedr.)
	144	Jedes Kind ist begabt Ertel, Henner. - Düsseldorf : ECON-Taschenbuch-Verl., 1993
	145	K 22 Maltzan, Mortimer. - München : Mortimer Mortimer, 1993, Einmalige Auflage, numeriert und signiert
	146	Kinder Frankfurt am Main : Öko-Test-Verl., 1993
	147	Linearizing term rewriting systems using test set Hofbauer, Dieter. - Berlin : Leiter der Fachbibliothek Informatik, Sekretariat FR 5-4, [1993]
	148	Modular orientierter Norm-Aufbau für leittext-integrierte System-Ausbildung / Transistor-Test-Modul / Arbeitsanleitung 1993, 1. dt.-sprachige Aufl.
	149	Modular orientierter Norm-Aufbau für leittext-integrierte System-Ausbildung / Transistor-Test-Modul / Arbeitsanleitung mit Lösungsvorschlag 1993, 1. dt.-sprachige Aufl.
	150	On the joint distribution function of order statistics with reference to step up multiple test procedures Finner, Helmut. - Trier : Univ., Fachbereich IV, Mathematik/Informatik, [1993]

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