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181 |
High-resolution electron tomography on beam-sensitive carbon materials Leschner, Jens, 2011
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182 |
IR and THz near-field microscopy for nanoscale dielectric mapping Hillenbrand, Rainer, 2011
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183 |
Klassifizierung der Welt Mori, Takashi. - Freiburg, Br. : Rombach, 2011, 1. Aufl.
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184 |
Optimization of an atomic force microscope and its application for highest-resolution imaging in liquid environments Rode, Sebastian Wilhelm Alfred, 2011
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185 |
Pinchplasma für die Mikroskopie mit weicher Röntgenstrahlung Benk, Markus Peter. - Aachen : Shaker, 2011
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186 |
Plastidules to humans Brömer, Rainer. - Göttingen : Univ.-Verl. Göttingen, 2011
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Prozessorientierte Leistungsmessung des naturwissenschaftlich-experimentellen Arbeitens Emden, Markus. - Berlin : Logos, 2011
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Rasterkraftmikroskopie und -spektroskopie am magnetischen Molekül Co-Salen Lämmle, Knud. - Göttingen : Cuvillier, 2011, 1. Aufl.
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189 |
Semi-blind deconvolution in 4Pi-microscopy Stück, Robert. - Uelvesbüll : Der Andere Verl., c 2011
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Single marker switching nanoscopy with 4Pi detection Aquino Maier, Daniel, 2011
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