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On the Origin of Natural Constants Good, Hans Peter. - Berlin/Boston : De Gruyter, 2018
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On the origin of natural constants Good, Hans Peter. - Berlin : De Gruyter, [2018]
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Epitaxial graphene on SiC for quantum resistance metrology Kruskopf, Mattias. - Braunschweig : Physikalisch-Technische Bundesanstalt, [2017], [1. Auflage]
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Handbuch alte thüringische, preußische, sächsische und mecklenburgische Maße und ihre Umrechnung Rockstuhl, Werner. - Bad Langensalza/Thüringen : Verlag Rockstuhl, 2017, 2. Auflage
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Namensgeber physikalischer Einheiten Bremen : Fachverlag NW in der Carl Schünemann Verlag GmbH, [2017]
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Calculating measurement uncertainties Krystek, Michael. - Berlin : Beuth Verlag GmbH, 2016, 1. Auflage
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[Krystek] Calculation measurement uncertainties Krystek, Michael. - Berlin : Beuth Verlag GmbH, 2016, 1. edition
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Die Entschlüsselung antiker Längenmaße mit besonderer Berücksichtigung der ägyptischen Maße Bergdoll, Stefan. - Rahden, Westf : VML, Verlag Marie Leidorf GmbH, 2016
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Line edge roughness in optical critical dimension metrology Bilski, Bartosz. - Stuttgart : Institut für Technische Optik der Universität Stuttgart, 2016
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Über den Ursprung der Naturkonstanten Good, Hans Peter. - Göttingen : Optimus, Mai 2016, 2. überarbeitete Auflage
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