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	41	4Pi-RESOLFT nanoscopy Böhm, Ulrike, 2016
	42	Advanced probe deign for enhanced (electro)chemical and physical information in atomic force microscopy Knittel, Peter Christian. - Ulm, 2016
	43	Aufbau eines Rastertunnelmikroskops für Landau Level-Spektroskopie auf topologischen Isolator-Oberflächen Storz, Oliver. - Würzburg, 2016
	44	Content-based microscopic image analysis Li, Chen. - Berlin : Logos Verlag, 2016
	45	Digitale holografische Mikroskopie an rauen Oberflächen Brunn, Andreas. - Ilmenau, [2016]
	46	Émilie du Châtelets Institutions physiques Reichenberger, Andrea. - Wiesbaden : Springer VS, [2016], [1. Aufl.]
	47	Exploring the potential of nonlinear optical microscopy with tailored femtosecond pulses Brückner, Lukas. - Heidelberg, [2016]
	48	Image formation in electron microscopes at low energies Wacker, Christian, 2016
	49	Interferometrie detection and control of cantilever displacement in NC-AFM applications Schmidsfeld, Alexander von. - Osnabrück, 2016
	50	Modeling and active vibration control of a linkage structure in a scanning tunneling microscope Lu, Jun. - Aachen : Shaker Verlag, 2016, [1. Auflage]

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