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41 |
From Varying Couplings to Fundamental Physics
Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 2011
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Grundriss der Generalisierten Gauß'schen Fehlerrechnung
Grabe, Michael. - Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 2011
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Advances in Speckle Metrology and Related Techniques
Weinheim : Wiley-VCH, 2010, 1., Auflage
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Contributions to a Yb+ single-ion optical frequency standard
Stein, Björn. - Hannover : Technische Informationsbibliothek und Universitätsbibliothek Hannover, 2010
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Internationales Wörterbuch der Metrologie
Berlin : Beuth Verlag GmbH, 2010, 3. Auflage
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Autorenanalyse Längen- und Koordinatenmesstechnik
Gallasch, Andreas. - Bietigheim-Bissingen, [Max-Born-Straße 47] : A. Gallasch, 2009, 2. Ausg., Stand September 2009
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Data Modeling for Metrology and Testing in Measurement Science
Boston : Birkhäuser Boston, 2009
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Analysen kryopräparierter nicht-dehydrierter Probensysteme mit Hilfe eines neu entwickelten ToF-SIMS-Instruments mit integrierter Hochvakuumkryoschnittapparatur
Möller, Jörg, 2008
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Measurement
Nagel, Ernest. - Frankfurt am Main : Universitätsbibliothek Johann Christian Senckenberg, 2008
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Optical parametric oscillators for precision IR spectroscopy and metrology
Kovalchuk, Evgeny, [2008]
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Administration
