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Ergebnis der Suche nach: tit all "On-Chip Delay Measurement Based Response Analysis for Timing Characterization."
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1192426207 |
| Titel | On-Chip Delay Measurement Based Response Analysis for Timing Characterization / by Ramyanshu Datta, Antony Sebastine, Ashwin Raghunathan, Gary Carpenter, Kevin Nowka, Jacob A. Abraham |
| Person(en) |
Datta, Ramyanshu (Verfasser) Sebastine, Antony (Verfasser) Raghunathan, Ashwin (Verfasser) Carpenter, Gary (Verfasser) Nowka, Kevin (Verfasser) Abraham, Jacob A. (Verfasser) |
| Organisation(en) | SpringerLink (Online service) (Sonstige) |
| Umfang/Format | Online-Ressource : online resource. |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2019080721055482950910 DOI: 10.1007/s10836-010-5188-1 |
| URL | https://doi.org/10.1007/s10836-010-5188-1 |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2010 |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Enthalten in: Journal of electronic testing (Bd. 26, 27.11.2010, Nr. 6, date:12.2010: 599-619) |
| Sachgruppe(n) | 621.3 Elektrotechnik, Elektronik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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