Katalog der Deutschen Nationalbibliothek

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Titel The pseudo-exhaustive test of sequential circuits / Hans-Joachim Wunderlich ; Sybille Hellebrand
Person(en) Wunderlich, Hans-Joachim (Verfasser)
Hellebrand, Sybille (Verfasser)
Verlag Stuttgart : Universitätsbibliothek der Universität Stuttgart
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2012
Umfang/Format Online-Ressource
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:bsz:93-opus-73342
URL http://elib.uni-stuttgart.de/opus/volltexte/2012/7334/ (Verlag) (kostenfrei zugänglich)
Sprache(n) Englisch (eng)
Anmerkungen In: Meeting the tests of time : International Test Conference 1989. Washington, DC : IEEE Computer Soc. Pr., 1989. - ISBN 0-8186-8962-5, S. 19-27. URL http://dx.doi.org./ 10.1109/TEST.1989.82273
Schlagwörter Testbarkeit ; Flip-Flop ; Fehlermodell
Sachgruppe(n) 621.3 Elektrotechnik, Elektronik

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