Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1212665228 |
Titel | Tatsächlicher Einfluß von Nahfeld-Effekten auf Störfestigkeitsprüfungen nach ISO 11452-2 |
Verlag | Hannover : Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover - Hannover : Technische Informationsbibliothek (TIB) |
Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2016 |
Umfang/Format | Online-Ressource |
Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2020062606403177542834 DOI: 10.15488/5278 |
URL | https://www.repo.uni-hannover.de/handle/123456789/5325 (Verlag) (kostenfrei zugänglich) |
Sprache(n) | Deutsch (ger) |
Anmerkungen | In: Kellerbauer, Holger; Seiger, Martin; Heinrich, Ralf: Tatsächlicher Einfluß von Nahfeld-Effekten auf Störfestigkeitsprüfungen nach ISO 11452-2. In: emv : Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit. Aachen : Apprimus, 2016, S. 277-284 |
Schlagwörter | Nahfeld* ; Prüftechnik* ; Hornstrahler* ; Feldstärke* (*maschinell ermittelt) |
DDC-Notation | 621.3848 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
Sachgruppe(n) | 621.3 Elektrotechnik, Elektronik |
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