Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "Machine Learning"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1366753895 |
| Titel | A framework for explainable root cause analysis in manufacturing systems – combining machine learning, explainable artificial intelligence and the Ishikawa model for industrial manufacturing / Daniel Kiefer, Tim Straub, Günter Bitsch, Clemens van Dinther |
| Person(en) |
Kiefer, Daniel (Verfasser) Straub, Tim (Verfasser) Bitsch, Günter (Verfasser) van Dinther, Clemens (Verfasser) |
| Verlag | Reutlingen : Hochschule Reutlingen |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2025 |
| Umfang/Format | Online-Ressource (pdf) |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:bsz:rt2-opus4-55401 DOI: 10.24251/HICSS.2025.140 |
| URL | https://publikationen.reutlingen-university.de/frontdoor/index/index/docId/5540 (Verlag) (kostenfrei zugänglich) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Anmerkungen | In: Proceedings of the 58th Hawai'i International Conference on System Sciences (HICSS) : 7-10 January 2025, Hawai'i. - Manoa : University of Hawai'i at Manoa, 2025, S. 1178-1187 |
| DDC-Notation | 658.5 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sachgruppe(n) | 650 Management |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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Administration
