Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "test"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/gnd/1217717676 |
| Veranstaltung | IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (33. : 2020 : Online) |
| Andere Namen |
International Conference on Microelectronic Test Structures (33. : 2020 : Online) ICMTS (33. : 2020 : Online) 2020 IEEE 33rd International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS) 2020 International Conference on Microelectronic Test Structures, April 6-9, Edinburgh, United Kingdom |
| Zeit | 04.05.2020-18.05.2020 |
| Land | Sonstiges Ausland, Unbekanntes Land (ZZ) |
| Weitere Angaben | Aufgrund der COVID-19-Pandemie als Online-Konferenz abgehalten (ursprüngliche Veranstaltungsdaten: 06.-09. April 2020 in Edinburgh). |
| Beziehungen zu Organisationen | Sponsor: IEEE Electron Devices Society |
| Typ | Veranstaltung (vie) |

