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Bücher
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Art des Inhalts Hochschulschrift
Titel Selbsttest und Fehlertoleranz mit zugelassener milder Degradation in integrierten CMOS-Sensorsystemen / von Dirk Weiler
Person(en) Weiler, Dirk (Verfasser)
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2001
Umfang/Format XVI, 204 Bl. : Ill., graph. Darst. ; 30 cm
Andere Ausgabe(n) Erscheint auch als Online-Ausgabe: Weiler, Dirk: Selbsttest und Fehlertoleranz mit zugelassener milder Degradation in integrierten CMOS-Sensorsystemen
Hochschulschrift Duisburg, Univ., Diss., 2001 (Nicht für den Austausch)
Sprache(n) Deutsch (ger)
Schlagwörter Integrierter Sensor ; CMOS-Schaltung ; Selbsttest ; Korrektur ; Fehlertoleranz ; Degradation <Technik>
DDC-Notation 621.381520287 [DDC22ger]
Sachgruppe(n) 37 Elektrotechnik
Weiterführende Informationen Inhaltsverzeichnis

Frankfurt Signatur: H 2001 B 5571
Bestand: [Dieses Werk gibt es inhaltsgleich auch in digitaler Form.]
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Leipzig Signatur: H 2001 B 5571
Bestand: [Dieses Werk gibt es inhaltsgleich auch in digitaler Form.]
Bereitstellung in Leipzig




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