Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "Machine Learning"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/122615204X |
| Titel | Multiple machine learning approach to characterize two-dimensional nanoelectronic devices via featurization of charge fluctuation / by Kookjin Lee, Sangjin Nam, Hyunjin Ji, Junhee Choi, Jun-Eon Jin, Yeonsu Kim, Junhong Na, Min-Yeul Ryu, Young-Hoon Cho, Hyebin Lee, Jaewoo Lee, Min-Kyu Joo, Gyu-Tae Kim |
| Person(en) |
Lee, Kookjin (Verfasser) Nam, Sangjin (Verfasser) Ji, Hyunjin (Verfasser) Choi, Junhee (Verfasser) Jin, Jun-Eon (Verfasser) Kim, Yeonsu (Verfasser) Na, Junhong (Verfasser) Ryu, Min-Yeul (Verfasser) Cho, Young-Hoon (Verfasser) Lee, Hyebin (Verfasser) Lee, Jaewoo (Verfasser) Joo, Min-Kyu (Verfasser) Kim, Gyu-Tae (Verfasser) |
| Organisation(en) | SpringerLink (Online service) (Sonstige) |
| Umfang/Format | Online-Ressource : online resource. |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2021020121315172381055 DOI: 10.1038/s41699-020-00186-w |
| URL | https://doi.org/10.1038/s41699-020-00186-w (Open Access) |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2021 |
| DDC-Notation | 530.4175 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Enthalten in: npj 2D materials and applications (Bd. 5, 4.1.2021, Nr. 1, date:12.2021: 1-9) |
| Sachgruppe(n) | 530 Physik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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