Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: swiRef=041690257
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/953853195 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | Hochpräzise Massenbestimmung hochgeladener Ionen mit SMILETRAP / vorgelegt von Tobias Schwarz |
| Person(en) | Schwarz, Tobias (Verfasser) |
| Ausgabe | [Mikrofiche-Ausg.] |
| Sekundärausgabe | Mikrofiche-Ausg.: Marburg : Tectum-Verl., 1998. 2 Mikrofiches : 24x - ISBN: 3-8288-0322-9 in Umschlag : DM 68.00 (freier Pr.), S 490.00 (freier Pr.), sfr 68.00 (freier Pr.) |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 1997 |
| Umfang/Format | VIII, 118 S. : graph. Darst. |
| Hochschulschrift | Zugl.: Mainz, Univ., Diss., 1998 |
| Beziehungen | Edition Wissenschaft / Reihe Physik ; Bd. 74 |
| Schlagwörter | Mehrfach geladenes Ion ; Masse <Physik> ; Penning-Käfig |
| Sachgruppe(n) | 29 Physik, Astronomie |
| Frankfurt |
Signatur: 1998 MF 220
Bereitstellung in Frankfurt |
| Leipzig |
Signatur: 1998 MF 220
Bereitstellung in Leipzig |

