Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: dcs=50*
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1347518878 |
| Titel | X-ray and image analysis in electron microscopy / John J. Friel & Ralf Terborg, Stefan Langner, Tobias Salge, Martin Rohde, Jana Berlin (married name: Bergholtz) |
| Person(en) | Friel, John J. (Verfasser) |
| Ausgabe | 3rd edition |
| Verlag | Berlin : Bruker Nano GmbH |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: [2016] |
| Umfang/Format | 118 Seiten : Illustrationen ; 29 Seiten + 1 Poster |
| ISBN/Einband/Preis | 978-3-00-053537-6 Festeinband : ca. EUR 12.00 |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Schlagwörter | Elektronenstrahlmikroanalyse ; Elektronenmikroskop |
| DDC-Notation | 530.417 [DDC23ger]; 502.825 [DDC23ger] |
| Sachgruppe(n) | 530 Physik |
| Weiterführende Informationen | Inhaltsverzeichnis |
| Frankfurt |
Signatur: 2024 B 58557
Bereitstellung in Frankfurt |
| Leipzig |
Signatur: 2025 B 20124
Bereitstellung in Leipzig |
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