Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "Machine Learning"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1301105686 |
| Titel | Semiconductor Multilayer Nanometrology with Machine Learning / by Hyunsoo Kwak, Jungwon Kim |
| Person(en) |
Kwak, Hyunsoo (Verfasser) Kim, Jungwon (Verfasser) |
| Organisation(en) | SpringerLink (Online service) (Sonstige) |
| Umfang/Format | Online-Ressource, 1 online resource. |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2023090608435048000180 DOI: 10.1007/s41871-023-00193-7 |
| URL | https://doi.org/10.1007/s41871-023-00193-7 |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2023 |
| DDC-Notation | 530.4175 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Enthalten in: Nanomanufacturing and metrology (Bd. 6, 4.5.2023, Nr. 1, date:12.2023: 1-18) |
| Sachgruppe(n) | 530 Physik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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