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Titel CMOS circuit design and test patterns for built in overcurrent testing / Gesellschaft für Mathematik und Datenverarbeitung mbH. Heinrich Theodor Vierhaus ... [Verantw. für dieses H.: Raul Camposano]
Person(en) Vierhaus, Heinrich Theodor (Mitwirkender)
Camposano, Raúl (Herausgeber)
Verlag Sankt Augustin : GMD
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 1993
Umfang/Format 13 S. ; 30 cm
ISBN/Einband/Preis kart. : DM 10.00
Beziehungen Gesellschaft für Mathematik und Datenverarbeitung: Arbeitspapiere der GMD ; Nr. 727
Anmerkungen Status nach VGG: vergriffen
Sachgruppe(n) 37 Elektrotechnik ; 28 Informatik, Datenverarbeitung

Frankfurt Signatur: 1993 B 3819
Bereitstellung in Frankfurt
Leipzig Signatur: 1993 B 3819
Bereitstellung in Leipzig




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