Katalog der Deutschen Nationalbibliothek

Neuigkeiten Donnerstag, 11. September 2025: Die Deutsche Nationalbibliothek öffnet wegen eines Beschäftigtentreffens an beiden Standorten erst um 15 Uhr. Die Ausstellungen des Deutschen Buch- und Schriftmuseums sind von 10 bis 18 Uhr geöffnet. Die Ausstellungen des Deutschen Exilarchivs 1933-1945 sind von 9 bis 21:30 Uhr geöffnet. // Thursday, 11 September 2025: The German National Library will not open until 15:00 due to a staff meeting at both locations. The exhibitions of the German Museum of Books and Writing will open from 10:00 to 18:00. The exhibitions of the German Exile Archive 1933–1945 will be open from 9:00 to 21:30.
 
 

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Art des Inhalts Hochschulschrift
Titel The Trace Model for Spatial Invariance with Applications in Structured Pattern Recognition, Image Patch Matching and Incremental Visual Tracking / Jan Ernst
Person(en) Ernst, Jan (Verfasser)
Ausgabe 1. Aufl.
Verlag Aachen : Shaker
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2014
Umfang/Format Online-Ressource : 38 farb. Ill. (pdf)
Andere Ausgabe(n) Erscheint auch als Druck-Ausgabe: The trace model for spatial invariance with applications in structured pattern recognition, image patch matching and incremental visual tracking
Hochschulschrift Zugl.: Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg, Diss., 2013
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2014110911345
ISBN/Einband/Preis 978-3-8440-3056-3
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Berichte aus der Informatik
Anmerkungen Lizenzpflichtig
Schlagwörter Maschinelles Sehen ; Signaldarstellung ; Verzerrung <Elektrotechnik> ; Invarianz ; Topologie ; Homöomorphismus ; Nachbarschaftsraum ; Mustererkennung ; Regionenorientierte Segmentierung ; Objektverfolgung
DDC-Notation 006.37 [DDC22ger]
Sachgruppe(n) 004 Informatik

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