Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1069045314 |
Art des Inhalts | Hochschulschrift |
Titel | Reliability Aware High-Level Embedded System Design in presence of Hard and Soft Errors / Adeel Israr |
Person(en) | Israr, Adeel (Verfasser) |
Ausgabe | 1. Aufl., neue Ausg. |
Verlag | Aachen : Shaker |
Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2012 |
Umfang/Format | Online-Ressource : 48 farb. Ill. (pdf) |
Andere Ausgabe(n) | Erscheint auch als Druck-Ausgabe: Israr, Adeel: Reliability aware high-level embedded system design in presence of hard and soft errors |
Hochschulschrift | Zugl.: Technische Universität Darmstadt, Diss., 2012 |
Persistent Identifier | URN: urn:nbn:de:101:1-201503294168 |
ISBN/Einband/Preis | 978-3-8440-1060-2 |
Sprache(n) | Englisch (eng) |
Beziehungen | Berichte aus der Informatik |
Anmerkungen | Lizenzpflichtig |
Schlagwörter | Eingebettetes System ; CMOS ; Halbleiterelektronik ; Fehlererkennung ; Systementwicklung ; Zuverlässigkeit ; Laufzeit ; Elektrizitätsverbrauch ; Entscheidungsgraph ; Pareto-Optimum |
DDC-Notation | 004.21 [DDC22ger]; 621.395 [DDC22ger] |
Sachgruppe(n) | 004 Informatik ; 621.3 Elektrotechnik, Elektronik |
Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
