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Treffer 1244 von 1859
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1008951242 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | Robust algorithms for high quality test pattern generation using Boolean satisfiability / Stephan Eggersglüß |
| Person(en) | Eggersglüß, Stephan (Verfasser) |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2010 |
| Umfang/Format | VIII, 182 S. : graph. Darst. ; 26 cm |
| Hochschulschrift | Bremen, Univ., Diss., 2010 |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| DDC-Notation | 621.381548 [DDC22ger]; 004.01511352 [DDC22ger] |
| Sachgruppe(n) | 621.3 Elektrotechnik, Elektronik ; 004 Informatik ; 510 Mathematik |
| Weiterführende Informationen | Inhaltsverzeichnis |
| Frankfurt |
Signatur: 2011 B 9540
Bereitstellung in Frankfurt |
| Leipzig |
Signatur: 2010 B 39045
Bereitstellung in Leipzig |
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