Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1021422177 |
Art des Inhalts | Hochschulschrift |
Titel | Parametric Reliability of 6T-SRAM Core Cell Arrays / Stefan Drapatz. Gutachter: Walter Stechele. Betreuer: Doris Schmitt-Landsiedel |
Person(en) |
Drapatz, Stefan (Verfasser) Schmitt-Landsiedel, Doris (Akademischer Betreuer) Stechele, Walter (Akademischer Betreuer) |
Verlag | München : Universitätsbibliothek der TU München |
Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2012 |
Umfang/Format | Online-Ressource |
Hochschulschrift | München, Technische Universität München, Diss., 2012 |
Persistent Identifier | URN: urn:nbn:de:bvb:91-diss-20120316-1084703-1-8 |
URL | http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bvb:91-diss-20120316-1084703-1-8 (Verlag) (kostenfrei zugänglich) |
Sprache(n) | Englisch (eng) |
Schlagwörter | Statisches RAM ; Speicherzelle ; MOS-FET ; Degradation <Technik> ; Zuverlässigkeit ; Flip-Flop ; CMOS ; Nanometerbereich |
DDC-Notation | 621.39732 [DDC22ger] |
Sachgruppe(n) | 621.3 Elektrotechnik, Elektronik |
Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
