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Ergebnis der Suche nach: "Christopher" and "S." and "Rose"



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Artikel
Link zu diesem Datensatz https://d-nb.info/1258564009
Titel Tuning the Performance of Negative Tone Electron Beam Resists for the Next Generation Lithography
Person(en) Lewis, Scott M. (Verfasser)
DeRose, Guy A. (Verfasser)
Alty, Hayden R. (Verfasser)
Hunt, Matthew S. (Verfasser)
Lee, Nathan (Verfasser)
Mann, James A. (Verfasser)
Grindell, Richard (Verfasser)
Wertheim, Alex (Verfasser)
De Rose, Lucia (Verfasser)
Fernandez, Antonio (Verfasser)
Muryn, Christopher A. (Verfasser)
Whitehead, George F. S. (Verfasser)
Timco, Grigore A. (Verfasser)
Scherer, Axel (Verfasser)
Winpenny, Richard E. P. (Verfasser)
Umfang/Format Online-Ressource (pdf)
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2022052715115830321050
DOI: 10.1002/adfm.202202710
URL https://doi.org/10.1002/adfm.202202710
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 27.05.2022
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Enthalten in: Advanced functional materials (27.05.2022. 10 S.)

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