Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "Thomas" and "White"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1363634909 |
| Titel | Comparative Study of Residual Stress and Defects in Single‐Crystalline (0001) AlN Wafers by Scanning Infrared Depolarization and White‐Beam X‐ray Topography |
| Person(en) |
Herms, Martin (Verfasser) Kabukcuoglu, Merve (Verfasser) Hartmann, Carsten (Verfasser) Stöhr, Markus (Verfasser) Wagner, Matthias (Verfasser) Hamann, Elias (Verfasser) Hänschke, Daniel (Verfasser) Richter, Carsten (Verfasser) Straubinger, Thomas (Verfasser) |
| Umfang/Format | Online-Ressource (pdf) |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2504211405353.028731399751 DOI: 10.1002/pssa.202400787 |
| URL | https://doi.org/10.1002/pssa.202400787 |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 20.04.2025 |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Enthalten in: Physica status solidi / A / Applications and materials science (20.04.2025. 7 S.) |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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