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Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1114451061 |
Titel | Application of the Bayes’ theory to the failure rate evaluation of electrical apparatus / by Shao-hua Jin, Jian-guo Lu, Yan-ping Wan, Shu-guang Sun |
Person(en) |
Jin, Shao-hua (Verfasser) Lu, Jian-guo (Sonstige) Wan, Yan-Ping (Sonstige) Sun, Shu-guang (Sonstige) |
Organisation(en) | SpringerLink (Online service) (Sonstige) |
Umfang/Format | Online-Ressource : online resource. |
Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:1111-2016092214740 DOI: 10.1631/jzus.2007.A0501 |
URL | http://dx.doi.org/10.1631/jzus.2007.A0501 |
Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2007 |
Sprache(n) | Englisch (eng) |
Beziehungen | Enthalten in: Zhe jiang da xue: Journal of Zhejiang University / Science A / Applied physics and engineering (Bd. 8, 1.3.2007, Nr. 3, date:3.2007: 501-505) |
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