Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: tit all "Pattern Classification"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1342533887 |
| Titel | Improved wafer map defect pattern classification using automatic data augmentation based lightweight encoder network in contrastive learning / by Yi Sheng, Jinda Yan, Minghao Piao |
| Person(en) |
Sheng, Yi (Verfasser) Yan, Jinda (Verfasser) Piao, Minghao (Verfasser) |
| Organisation(en) | SpringerLink (Online service) (Sonstige) |
| Umfang/Format | 1 Online-Ressource. |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2409201051395.754575331169 DOI: 10.1007/s10845-024-02444-w |
| URL | https://doi.org/10.1007/s10845-024-02444-w |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2024 |
| DDC-Notation | 006.31 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Enthalten in: Journal of intelligent manufacturing (1.7.2024: 1-13) |
| Sachgruppe(n) | 004 Informatik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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