Katalog der Deutschen Nationalbibliothek

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Art des Inhalts Hochschulschrift
Titel Fatigue behavior of sub-micron silver and copper films / Max-Planck-Institut für Metallforschung ... Vorgelegt von Ruth Schwaiger
Person(en) Schwaiger, Ruth (Verfasser)
Verlag Stuttgart : Max-Planck-Inst. für Metallforschung
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2002
Umfang/Format ca. 14,1 MB
Hochschulschrift Zugl.: Stuttgart, Univ., Diss., 2001
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:bsz:93-opus-10349
URL http://elib.uni-stuttgart.de/opus/volltexte/2002/1034/pdf/dissertation.pdf
http://elib.uni-stuttgart.de/opus/volltexte/2002/1034/index.html (Verlag)
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Max-Planck-Institut für Metallforschung: Bericht ; Nr. 112
Schlagwörter Mikrosystemtechnik ; Silber ; Dünne Schicht ; Siliciumdioxid ; Materialermüdung ; Size-Effekt
Kupfer ; Dünne Schicht ; Polyimide ; Materialermüdung ; Werkstoffschädigung ; Size-Effekt
Sachgruppe(n) 35 Technik allgemein ; 36 Energie-, Maschinen-, Fertigungstechnik ; 37 Elektrotechnik

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