Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1118512162 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | Systematic irradiation studies and Quality Assurance of silicon strip sensors for the CBM Silicon Tracking System / von Pavel Larionov |
| Person(en) | Larionov, Pavel (Verfasser) |
| Verlag | Frankfurt am Main |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2016 |
| Umfang/Format | xii, 172 Seiten : Illustrationen, Diagramme ; 30 cm |
| Hochschulschrift | Dissertation, Johann Wolfgang Goethe-Universität in Frankfurt am Main, 2016 |
| ISBN/Einband/Preis | Broschur |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| DDC-Notation | 539.776 [DDC22ger] |
| Sachgruppe(n) | 530 Physik |
| Weiterführende Informationen | Inhaltsverzeichnis |
| Frankfurt |
Signatur: 2017 B 1471
Bereitstellung in Frankfurt |
| Leipzig |
Signatur: 2016 B 30197
Bereitstellung in Leipzig |
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