Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1070401285 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | Rückgeführte, hochgenaue Größenmessung von Nanopartikeln im Transmissionsmodus eines Rasterelektronenmikroskops / Tobias Klein |
| Person(en) | Klein, Tobias (Verfasser) |
| Organisation(en) | Wirtschaftsverlag N.W. Verlag für Neue Wissenschaft (Verlag) |
| Verlag | Bremen : Wirtschaftsverlag NW, Verlag für neue Wissenschaft GmbH |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: April 2014 |
| Umfang/Format | viii, 209 Seiten : Illustrationen ; 30 cm, 668 g |
| Hochschulschrift | Dissertation, Universität des Saarlandes, 2013 |
| ISBN/Einband/Preis | 978-3-95606-092-2 Broschur : EUR 22.50 (DE), EUR 23.20 (AT), sfr 32.50 (freier Pr.) |
| Bestellnummer(n) | Opt 74 |
| EAN | 9783956060922 |
| Sprache(n) | Deutsch (ger) |
| Beziehungen |
Physikalisch-Technische Bundesanstalt: Bericht / Opt ; 74 Wissenschaftliche Veröffentlichungen |
| Schlagwörter | Nanopartikel ; Teilchengröße ; Rasterelektronenmikroskopie ; Durchstrahlungselektronenspektroskopie |
| DDC-Notation | 502.825 [DDC22ger] |
| Sachgruppe(n) | 500 Naturwissenschaften |
| Weiterführende Informationen | Inhaltsverzeichnis |
| Frankfurt |
Signatur: 2015 B 25385
Bereitstellung in Frankfurt |
| Leipzig |
Signatur: 2015 B 34200
Bereitstellung in Leipzig |
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