Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "test"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/gnd/1182591485 |
| Veranstaltung | IEEE Asian Test Symposium (27. : 2018 : Hefei) |
| Andere Namen |
Asian Test Symposiu (27. : 2018 : Hefei) ATS (27. : 2018 : Hefei) |
| Quelle | Homepage (Stand: 04.04.2019): http://ats2018.hfut.edu.cn/ |
| Zeit | 15.10.2018-18.10.2018 |
| Land | China (XB-CN) |
| Geografischer Bezug | Veranstaltungsort: Hefei |
| Typ | Veranstaltung (vie) |

