Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: dcs=53*
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/978100026 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | Strukturbestimmung an ultradünnen SiO2-Filmen auf 4H-SiC(0001) mittels Photoelektronenspektroskopie und -beugung / vorgelegt von Mark Schürmann |
| Person(en) | Schürmann, Mark (Verfasser) |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2005 |
| Umfang/Format | 107 S. : Ill., graph. Darst. ; 30 cm |
| Andere Ausgabe(n) | Erscheint auch als Online-Ausgabe: Schürmann, Mark: Strukturbestimmung an ultradünnen SiO2-Filmen auf 4H-SiC(0001) mittels Photoelektronenspektroskopie und -beugung |
| Hochschulschrift | Dortmund, Univ., Diss., 2005 |
| DDC-Notation | 537.6226 [DDC22ger] |
| Sachgruppe(n) | 530 Physik |
| Frankfurt |
Signatur: 2006 B 2553 Bestand: [Dieses Werk gibt es inhaltsgleich auch in digitaler Form.] Bereitstellung in Frankfurt |
| Leipzig |
Signatur: 2006 B 2219 Bestand: [Dieses Werk gibt es inhaltsgleich auch in digitaler Form.] Bereitstellung in Leipzig |
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