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Art des Inhalts Hochschulschrift
Titel Strukturbestimmung an ultradünnen SiO2-Filmen auf 4H-SiC(0001) mittels Photoelektronenspektroskopie und -beugung / vorgelegt von Mark Schürmann
Person(en) Schürmann, Mark (Verfasser)
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2005
Umfang/Format 107 S. : Ill., graph. Darst. ; 30 cm
Andere Ausgabe(n) Erscheint auch als Online-Ausgabe: Schürmann, Mark: Strukturbestimmung an ultradünnen SiO2-Filmen auf 4H-SiC(0001) mittels Photoelektronenspektroskopie und -beugung
Hochschulschrift Dortmund, Univ., Diss., 2005
DDC-Notation 537.6226 [DDC22ger]
Sachgruppe(n) 530 Physik

Frankfurt Signatur: 2006 B 2553
Bestand: [Dieses Werk gibt es inhaltsgleich auch in digitaler Form.]
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Leipzig Signatur: 2006 B 2219
Bestand: [Dieses Werk gibt es inhaltsgleich auch in digitaler Form.]
Bereitstellung in Leipzig




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