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Bücher
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Art des Inhalts Hochschulschrift
Titel Microstructural effects on stress in thin films / Markus Albin Wohlschlögel
Person(en) Wohlschlögel, Markus Albin (Verfasser)
Verlag Stuttgart : Max-Planck-Inst. für Metallforschung
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2008
Umfang/Format 146 S. : Ill., graph. Darst. ; 21 cm
Andere Ausgabe(n) Erscheint auch als Online-Ausgabe: Wohlschlögel, Markus Albin: Microstructural effects on stress in thin films
Hochschulschrift Zugl.: Stuttgart, Univ., Diss., 2008
ISBN/Einband/Preis kart.
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Max-Planck-Institut für Metallforschung: Bericht ; Nr. 218
Schlagwörter Spannung ; Mikrostruktur ; Dünne Schicht
DDC-Notation 530.4175 [DDC22ger]
Sachgruppe(n) 530 Physik

Frankfurt Signatur: 2008 A 89349
Bestand: [Dieses Werk gibt es inhaltsgleich auch in digitaler Form.]
Bereitstellung in Frankfurt
Leipzig Signatur: 2008 A 110720
Bestand: [Dieses Werk gibt es inhaltsgleich auch in digitaler Form.]
Bereitstellung in Leipzig




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