Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1058865870 |
Art des Inhalts | Hochschulschrift |
Titel | X-Ray Microanalysis with Transition Edge Sensors : The Future of Material Analysis with Scanning Electron Microscopes / Christian Hollerith. Gutachter: Reiner Krücken. Betreuer: Franz von Feilitzsch |
Person(en) |
Hollerith, Christian (Verfasser) Feilitzsch, Franz von (Akademischer Betreuer) Krücken, Reiner (Akademischer Betreuer) |
Verlag | München : Universitätsbibliothek der TU München |
Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2006 |
Umfang/Format | Online-Ressource |
Andere Ausgabe(n) | Erscheint auch als Druck-Ausgabe: Hollerith, Christian: X-ray microanalysis with transition edge sensors |
Hochschulschrift | München, Technische Universität München, Diss., 2006 |
Persistent Identifier | URN: urn:nbn:de:bvb:91-diss20060811-1400030293 |
URL | http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bvb:91-diss20060811-1400030293 (Verlag) (kostenfrei zugänglich) |
Sprache(n) | Englisch (eng) |
DDC-Notation | 530.417 [DDC22ger] |
Sachgruppe(n) | 530 Physik |
Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
