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Link zu diesem Datensatz https://d-nb.info/1222419947
Titel Interfaces and defect composition at the near-atomic scale through atom probe tomography investigations / by Baptiste Gault, Andrew J. Breen, Yanhong Chang, Junyang He, Eric A. Jägle, Paraskevas Kontis, Philipp Kürnsteiner, Alisson Kwiatkowski da Silva, Surendra Kumar Makineni, Isabelle Mouton, Zirong Peng, Dirk Ponge, Torsten Schwarz, Leigh T. Stephenson, Agnieszka Szczepaniak, Huan Zhao, Dierk Raabe
Person(en) Gault, Baptiste (Verfasser)
Breen, Andrew J. (Verfasser)
Chang, Yanhong (Verfasser)
He, Junyang (Verfasser)
Jägle, Eric A. (Verfasser)
Kontis, Paraskevas (Verfasser)
Kürnsteiner, Philipp (Verfasser)
da Silva, Alisson Kwiatkowski (Verfasser)
Makineni, Surendra Kumar (Verfasser)
Mouton, Isabelle (Verfasser)
Peng, Zirong (Verfasser)
Ponge, Dirk (Verfasser)
Schwarz, Torsten (Verfasser)
Stephenson, Leigh T. (Verfasser)
Szczepaniak, Agnieszka (Verfasser)
Zhao, Huan (Verfasser)
Raabe, Dierk (Verfasser)
Organisation(en) SpringerLink (Online service) (Sonstige)
Umfang/Format Online-Ressource : online resource.
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2020112918150547297975
DOI: 10.1557/jmr.2018.375
URL https://doi.org/10.1557/jmr.2018.375 (Open Access)
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2018
DDC-Notation 537.2 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation)
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Enthalten in: Journal of materials research (Bd. 33, 1.12.2018, Nr. 23, date:12.2018: 4018-4030)
Sachgruppe(n) 530 Physik

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