Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "test"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/gnd/1152034650 |
| Veranstaltung | VDAT (21. : 2017 : Roorkee) |
| Andere Namen | International Symposium on VLSI Design and Test (21. : 2017 : Roorkee) |
| Zeit | 29.06.2017-02.07.2017 |
| Land | Indien (XB-IN) |
| Geografischer Bezug | Veranstaltungsort: Roorkee |
| Typ | Veranstaltung (vie) |

