Katalog der Deutschen Nationalbibliothek

Neuigkeiten Donnerstag, 11. September 2025: Die Deutsche Nationalbibliothek öffnet wegen eines Beschäftigtentreffens an beiden Standorten erst um 15 Uhr. Die Ausstellungen des Deutschen Buch- und Schriftmuseums sind von 10 bis 18 Uhr geöffnet. Die Ausstellungen des Deutschen Exilarchivs 1933-1945 sind von 9 bis 21:30 Uhr geöffnet. // Thursday, 11 September 2025: The German National Library will not open until 15:00 due to a staff meeting at both locations. The exhibitions of the German Museum of Books and Writing will open from 10:00 to 18:00. The exhibitions of the German Exile Archive 1933–1945 will be open from 9:00 to 21:30.
 
 

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Titel YOLOv4-Based Semiconductor Wafer Notch Detection Using Deep Learning and Image Enhancement Algorithms / by Hao Wang, Hyo Jun Sim, Jong Jin Hwang, Sung Jin Kwak, Seung Jae Moon
Person(en) Wang, Hao (Verfasser)
Sim, Hyo Jun (Verfasser)
Hwang, Jong Jin (Verfasser)
Kwak, Sung Jin (Verfasser)
Moon, Seung Jae (Verfasser)
Organisation(en) SpringerLink (Online service) (Sonstige)
Umfang/Format 1 Online-Ressource.
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2411250841326.426861713843
DOI: 10.1007/s12541-024-01092-7
URL https://doi.org/10.1007/s12541-024-01092-7
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2024
DDC-Notation 006.37 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation)
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Enthalten in: International journal of precision engineering and manufacturing (Bd. 25, 16.8.2024, Nr. 9, date:9.2024: 1909-1916)
Sachgruppe(n) 004 Informatik

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