Katalog der Deutschen Nationalbibliothek

Neuigkeiten

Leichte Bedienung, intuitive Suche: Die Betaversion unseres neuen Katalogs ist online! → Zur Betaversion des neuen DNB-Katalogs

 
 

Ergebnis der Suche nach: tit all "test"



Treffer 175 von 30402 < < > <



Artikel
Link zu diesem Datensatz https://d-nb.info/1376442426
Titel Exact and heuristic approaches for scheduling parallel stress test machines in semiconductor reliability laboratories / by Jessica Hautz, Andreas Klemmt, Lars Mönch
Person(en) Hautz, Jessica (Verfasser)
Klemmt, Andreas (Verfasser)
Mönch, Lars (Verfasser)
Organisation(en) SpringerLink (Online service) (Sonstige)
Umfang/Format 1 Online-Ressource.
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2509142145371.459641293790
DOI: 10.1007/s10696-025-09630-9
URL https://doi.org/10.1007/s10696-025-09630-9
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2025
DDC-Notation 658.5 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation)
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Enthalten in: Flexible services and manufacturing journal (14.7.2025: 1-34)
Sachgruppe(n) 650 Management

Online-Zugriff Archivobjekt öffnen




Treffer 175 von 30402
< < > <


E-Mail-IconAdministration