Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1376442426 |
Titel | Exact and heuristic approaches for scheduling parallel stress test machines in semiconductor reliability laboratories / by Jessica Hautz, Andreas Klemmt, Lars Mönch |
Person(en) |
Hautz, Jessica (Verfasser) Klemmt, Andreas (Verfasser) Mönch, Lars (Verfasser) |
Organisation(en) | SpringerLink (Online service) (Sonstige) |
Umfang/Format | 1 Online-Ressource. |
Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2509142145371.459641293790 DOI: 10.1007/s10696-025-09630-9 |
URL | https://doi.org/10.1007/s10696-025-09630-9 |
Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2025 |
DDC-Notation | 658.5 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
Sprache(n) | Englisch (eng) |
Beziehungen | Enthalten in: Flexible services and manufacturing journal (14.7.2025: 1-34) |
Sachgruppe(n) | 650 Management |
Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
