Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "test"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/gnd/1115378333 |
| Veranstaltung | IEEE VLSI Test Symposium (34. : 2016 : Las Vegas, Nev.) |
| Andere Namen |
VLSI Test Symposium (34. : 2016 : Las Vegas, Nev.) VTS (34. : 2016 : Las Vegas, Nev.) |
| Zeit | 25.04.2016-27.04.2016 |
| Land | USA (XD-US) |
| Geografischer Bezug | Veranstaltungsort: Las Vegas, Nev. |
| Typ | Veranstaltung (vie) |

