Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: dcs=530.4*
Treffer 1792 von 1811
|
|
| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/972799400 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | Investigation of light-induced defects in hydrogenated amorphous silicon by low temperature annealing and pulsed degradation / vorgelegt von Stephan Heck |
| Person(en) | Heck, Stephan (Verfasser) |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: [2003] |
| Umfang/Format | Online-Ressource, ca. 1,0 MB |
| Andere Ausgabe(n) | Erscheint auch als Druck-Ausgabe: Heck, Stephan: Investigation of light induced defects in hydrogenated amorphous silicon by low temperature annealing and pulsed degradation |
| Hochschulschrift | Marburg, Univ., Diss., 2002 |
| Persistent Identifier | URN: urn:nbn:de:hebis:04-z2002-04083 |
| URL |
http://archiv.ub.uni-marburg.de/diss/z2002/0408/pdf/dsh.pdf (Verlag) (kostenfrei zugänglich) http://archiv.ub.uni-marburg.de/diss/z2002/0408/ (Verlag) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Schlagwörter | Silicium ; Amorpher Halbleiter ; Wasserstoff ; Lichtinduzierter Defekt |
| DDC-Notation | 530.416 [DDC22ger] |
| Sachgruppe(n) | 530 Physik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
Treffer 1792 von 1811
Administration
