Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1186973862 |
| Titel | Atomic Force Microscopy |
| Ausgabe | 2nd edition 2019 |
| Verlag | Cham : Springer International Publishing |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2019 |
| Umfang/Format | Online-Ressource (pdf) |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2019052405092817523476 DOI: 10.1007/978-3-030-13654-3 |
| URL | https://link.springer.com/book/10.1007/978-3-030-13654-3 (Verlag) |
| ISBN/Einband/Preis | 978-3-030-13654-3 |
| EAN | 9783030136543 |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | NanoScience and Technology |
| Schlagwörter | Rasterkraftmikroskopie |
| DDC-Notation | 502.82 [DDC22ger] |
| Sachgruppe(n) | 500 Naturwissenschaften |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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