Katalog der Deutschen Nationalbibliothek

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Bücher
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Art des Inhalts Hochschulschrift
Titel Einheitliches Modell zur Beschreibung der Generations- und Ausheilprozesse von Oxidladungen Qot und Grenzflächenzuständen Dit im Siliziumdioxid durch Stress / Friedrich Wulf. [Hahn-Meitner-Inst. Berlin GmbH, Bereich Datenverarbeitung u. Elektronik]
Person(en) Wulf, Friedrich (Verfasser)
Verlag Berlin : Hahn-Meitner-Inst.
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 1989
Umfang/Format 128 S. : graph. Darst. ; 30 cm
Hochschulschrift Zugl.: Berlin, Techn. Univ., Diss., 1988
ISBN/Einband/Preis kart.
Identifikationsnummern Reportnummer: HMI-B 465
Anmerkungen Status nach VGG: vergriffen
Sachgruppe(n) 37 Elektrotechnik ; 29 Physik, Astronomie
Weiterführende Informationen Inhaltsverzeichnis

Frankfurt Signatur: D 89b/6797
Bereitstellung in Frankfurt
Leipzig Signatur: SB 7316-465
Bereitstellung in Leipzig




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