Katalog der Deutschen Nationalbibliothek

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Titel A Deep Study of Resistance Switching Phenomena in TaOₓ ReRAM Cells : System-Theoretic Dynamic Route Map Analysis and Experimental Verification / Alon Ascoli, Stephan Menzel, Vikas Rana, Tim Kempen, Ioannis Messaris, Ahmet Samil Demirkol, Michael Schulten, Anne Siemon, Ronald Tetzlaff
Person(en) Ascoli, Alon (Verfasser)
Menzel, Stephan (Verfasser)
Rana, Vikas (Verfasser)
Kempen, Tim (Verfasser)
Messaris, Ioannis (Verfasser)
Demirkol, Ahmet Samil (Verfasser)
Schulten, Michael (Verfasser)
Siemon, Anne (Verfasser)
Tetzlaff, Ronald (Verfasser)
Verlag Dresden : Technische Universität Dresden
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2024
Umfang/Format Online-Ressource
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:bsz:14-qucosa2-883397
URL (kostenfrei zugänglich)
Sprache(n) Englisch (eng)
Anmerkungen In: Advanced electronic materials. 8(8),S. 2200182-1-2200182-31
DDC-Notation 621.397 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation)
Sachgruppe(n) 621.3 Elektrotechnik, Elektronik

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