Katalog der Deutschen Nationalbibliothek

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Titel Signatures of two-level defects in the temperature-dependent damping of nanomechanical silicon nitride resonators / Thomas Faust, Johannes Rieger, Maximilian J. Seitner, Jörg P. Kotthaus, Eva M. Weig
Person(en) Faust, Thomas (Verfasser)
Rieger, Johannes (Verfasser)
Seitner, Maximilian J. (Verfasser)
Kotthaus, Jörg Peter (Verfasser)
Weig, Eva M. (Verfasser)
Verlag Konstanz : Bibliothek der Universität Konstanz
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2015
Umfang/Format Online-Ressource
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:bsz:352-0-288096
URL http://kops.uni-konstanz.de/handle/123456789/30913 (Verlag) (kostenfrei zugänglich)
Sprache(n) Englisch (eng)
Anmerkungen In: Physical Review B ; 89 (2014), 10. - 100102(R). - ISSN 1098-0121. - eISSN 1095-3795
Sachgruppe(n) 530 Physik

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