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Neuigkeiten Dienstag 18. November 2025: Die Lesesäle der Deutschen Nationalbibliothek in Frankfurt am Main öffnen wegen einer Personalversammlung erst ab 13 Uhr. // Tuesday 18 November 2025: The reading rooms of the German National Library in Frankfurt am Main will open at 13:00 due to a staff assembly.
 
 

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Art des Inhalts Hochschulschrift
Titel Konzeption und Untersuchung eines fehlertoleranten FET-Umrichters / Florian Kapaun
Person(en) Kapaun, Florian (Verfasser)
Organisation(en) Shaker Verlag (Verlag)
Ausgabe 1. Auflage
Verlag Düren : Shaker
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2019
Umfang/Format Online-Ressource, 205 Seiten : 73 Illustrationen (pdf)
Andere Ausgabe(n) Erscheint auch als Druck-Ausgabe: Konzeption und Untersuchung eines fehlertoleranten FET-Umrichters
Hochschulschrift Dissertation, Universität der Bundeswehr München, 2019
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2019061606483373419972
ISBN/Einband/Preis 978-3-8440-6661-6
Sprache(n) Deutsch (ger)
Beziehungen Forschungsberichte Leistungselektronik und Steuerungen ; 11
Schlagwörter Umrichter ; Feldeffekttransistor ; Niederspannung ; Wide-bandgap Halbleiter ; Fehlertoleranz ; Schaltverhalten ; Leistungselektronik ; Verlustleistung ; Fehleranalyse ; Ausfallsicheres System
DDC-Notation 621.3815322 [DDC23ger]; 621.317 [DDC23ger]; 621.3815284 [DDC23ger]
Sachgruppe(n) 621.3 Elektrotechnik, Elektronik

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