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Ergebnis der Suche nach: tit all "SiGe Heterojunction Bipolar Transistors"



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Link zu diesem Datensatz https://d-nb.info/1304750272
Titel The behavior of Ti silicidation on Si/SiGe/Si base and its effect on base resistance and fmax in SiGe hetero-junction bipolar transistors / by Seung-Yun Lee, Hong-Seung Kim, Sang-Heung Lee, Kyu-Hwan Shim, Jin-Yeong Kang, Min-Kyu Song
Person(en) Lee, Seung-Yun (Verfasser)
Kim, Hong-Seung (Verfasser)
Lee, Sang-Heung (Verfasser)
Shim, Kyu-Hwan (Verfasser)
Kang, Jin-Yeong (Verfasser)
Song, Min-Kyu (Verfasser)
Organisation(en) SpringerLink (Online service) (Sonstige)
Umfang/Format Online-Ressource, 1 online resource.
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2023100221263751221804
DOI: 10.1023/A:1011843517164
URL https://doi.org/10.1023/A:1011843517164
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2001
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Enthalten in: Journal of materials science / Materials in electronics (Bd. 12, Nr. 8, date:8.2001: 467-472)
Sachgruppe(n) 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau

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