Katalog der Deutschen Nationalbibliothek

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Bücher
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Titel Scanning tunneling potentiometry at nanoscale defects in thin films / Felix Lüpke
Person(en) Lüpke, Felix (Verfasser)
Verlag Jülich : Forschungszentrum Jülich GmbH
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: [2018]
Umfang/Format iv, 144 Seiten : Illustrationen ; 24 cm
ISBN/Einband/Preis 978-3-95806-361-7 Broschur
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Forschungszentrum Jülich: Schriften des Forschungszentrums Jülich / Reihe Schlüsseltechnologien ; Band 185
Schlagwörter Dünne Schicht ; Rastertunnelmikroskopie ; Potentiometrie
DDC-Notation 530.4175 [DDC23ger]
Sachgruppe(n) 530 Physik ; 540 Chemie
Weiterführende Informationen Inhaltsverzeichnis

Frankfurt Signatur: 2019 A 20564
Bereitstellung in Frankfurt
Leipzig Signatur: 2019 A 31858
Bereitstellung in Leipzig




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